Zeiss GeminiSem 300 může provádět sekundární elektronové zobrazování sekundárních elektronů a elektronové zobrazování současně s rozlišením až 0,7 nm. Může si uvědomit rychlé, vysoce kvalitní a zkreslené zobrazování rozsáhlých a sub-nano rozlišení. Detektor EDS s oknem 100 mm2 může provádět kvantitativní stanovení prvků bodů, linie a oblasti v reálném čase. Detektor EBSD může shromažďovat EBSP bez zkreslení a Megapixel-Resolution pro podrobnou analýzu napětí a fáze.

Spectro Arcos ICP-OES má vertikální strukturu dvojité pozorování (DSOI), která zvyšuje citlivost a eliminuje problémy s kompatibilitou kontaminace/matrice. Jeho optický systém ORCA může zachytit spektra v rozsahu 130-770 nm. Ve srovnání se systémy založenými na Echelle s křížovým disperzí pomocí mřížky a hranolu středního kroku poskytuje výkon v rozsahu UV/VUV s intenzitou fotoakustického signálu až do 5x více.

Spectrolab je vybaven světovým záznamovým systémem detektorů založený na CMOS, což je ideální pro špičkové analýzy kovů. Poskytuje extrémně rychlou, vysoce přesnou a výjimečně flexibilní analýzu pro aplikace od stopových prvků až po multi-matici.

Jena Novaa 800F má integrovaný kolotoč s čtečkou RFID pro 8 kódovaných dutých katodových lamp, korekci pozadí deuteria, osvědčenou optickou lavičkou v režimu s jedním a dvojitým paprskem a také v emisním režimu a nejnovějším detektorem pevných látek Siosens. Jeho vícenásobné inteligentní příslušenství maximalizuje produktivitu, bezpečnost a snadné použití pro analytické rutiny.

Systém testování univerzálních materiálů 68TM-30 má senzory zatížení 30 kN a 1KN s přesností 0,5 stupně v rozmezí 0,1 ~ 100%. Zkušební systém může provádět integrovanou kontrolu a získávání dat s uzavřenou smyčkou, jakož i automatickou identifikaci a kalibraci senzorů. Jeho vysoce přesný bezkonkurenční video Extensometer Ave2 má rozlišení 0,5 μm a používá patentovaný křížově polarizovaný osvětlovací systém a ventilátory CDAT k odstranění vlivu personálu, osvětlení a proudění vzduchu na výsledky testu pro vysoce opakovatelné a přesné měření napětí. . .

Projekt VR-5200 používá pruhované strukturované světlo a vysoce přesný senzor CMOS k zachycení obrázků a změření výšky a polohy každého bodu. Vybaven nízkoenergetickým objektivem, může měřit rozsah až 200 × 100 × 50 mm. Objektiv s vysokou zvýšením snižuje rozlišení displeje na 0,1 μm, což umožňuje měření bezkontaktního dávky tvaru, kolísání a drsnosti.

IM-8020 používá duální telecentrickou čočku s výjimečnými schopnostmi detekce okrajů k měření vzorků různých výšek pouze s jedním kliknutím. Jeho detekční výkon je 3krát vyšší než u konvenčních modelů díky svým 20megapixelovým CMO a algoritmu detekce nového okraje. S měřicí plochou 300 mm x 200 mm a dvojnásobkem rychlosti tradičních modelů může měřit až 300 dílů za několik sekund. To umožňuje rychlá, přesná a snadná měření, což výrazně zlepšuje přesnost a zároveň zkracuje dobu měření a lidskou chybu.

Analyzátor částic helos/BR je vybaven výkonnou a robustní jednotkou RODOS suché disperzní jednotku pro rychlou a opakovatelnou analýzu velikosti částic suchých vzorků. Má rozsah měření 0,3 až 175 μm a přesnost menší než 0,3%

Jupiter STA 449F3 je robustní, flexibilní a snadno použitelný nástroj, který současně určuje kalorické účinky a hmotnostní změnu. Kombinuje vysoce výkonné DSC tepelného toku s termobalancí, která má mikrogramové rozlišení a nabízí nesrovnatelný vzorek a rozsah měření.